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Spektrumanalysator

Spektrumanalysator

Eingangsfaser: SM (9,5/125 μm), MMF (50/125 μm, 62,5/125 μm)
Wellenlängenbereich:600-1700nm
Auflösungsbandbreite: 0.02~2nm
Auflösungseinstellung:{{0}}.02nm,0.05nm,0,1nm,0,2nm,0,5nm,1nm,2nm

Produkteinführung
Technische Hauptspezifikation der AE8600-Serie

 

Spektrummessung

Eingangsfaser

SM (9,5/125 μm), MMF (50/125 μm, 62,5/125 μm)

Wellenlängenbereich

600-1700nm

Auflösungsbandbreite

0.02~2nm

Auflösungseinstellung

{{0}}.02nm,0.05nm,0,1nm,0,2nm,0,5nm,1nm,2nm

Wellenlängengenauigkeit

1520 bis 1620 nm ±0,02 nm
1450 bis 1520 nm ±0,04 nm
Vollständiger Bereich ±0,1 nm

Wiederholbarkeit der Wellenlänge

±0.005 nm (1 Minute)

Wellenlängenlinearität

±0.01 nm (1520 bis 1580 nm)
±0.02 nm (1450 bis 1520 nm, 1580 bis 1620 nm)

Mindestbildschirmauflösung

0.001nm

 

Leistungsmessung

Leistungsempfindlichkeit

{{0}}dBm(1300-1620nm,Auflösung größer oder gleich 0,05 nm)
{{0}}dBm(1000-1300nm,Auflösung größer oder gleich 0,05 nm)
{{0}}dBm(600-1000nm,Auflösung größer oder gleich 0,05 nm)

Maximale Eingangsleistung

±20 dBm

Leistungsgenauigkeit

±0,4 dB (1310/1550 nm, Eingangsleistung: -20dBm)

Leistungslinearität

±0.05dB(Eingangsleistung:-50~+10dBm)

Maximale Probenahmepunkte

50000

Optische Rückflussdämpfung

>35 dB (mit APC-Schnittstelle)

Polarisationsabhängigkeit

±0.05 dB (1550 nm)

Lichtdynamikbereich

Spitzenwellenlänge ±{{0}},1 nm 39 dB (Auflösung: 0,02 nm)
Spitzenwellenlänge ±{{0}},4 nm 60 dB (Auflösung: 0,05 nm)
Spitzenwellenlänge ±1,0nm 73 dB (Auflösung: 0,05 nm)

 

Allgemeine technische Spezifikation

Anzeige

10,1 Zoll 1280×800 kapazitiver Touchscreen

Schnittstelle

USB2.0, USB 3.0, VGA, GP-IB
Ethernet (10M/100M/1000M),RS232-DB9

Betriebs-Temperatur

+5-+35 Grad

Lagertemperatur

-10-50 Grad

Leistung

Wechselstrom: 100-240V 1,7A 50~60Hz
DC 12 V 5,4 A (max.)

Beliebte label: Spektrumanalysator, China-Spektrumanalysator, Routine -Wartungstestinstrument, Testinstrumentleasing, Tests auf HDMI -Konnektivität mit Testinstrument, Qualitätssicherungstestinstrument, Operator -Testinstrument, Testinstrument mit geringer Leistung

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